金屬間化合物觀察與測量
背景:
近年來,隨著電子工業(yè)無鉛化的要求,研究以Sn為基體的無鉛釬料與基板的界面反應(yīng)日益增多。在電子產(chǎn)品中,常常以銅為基板材料,焊接和服役過程中焊料與銅基板之間界面上反應(yīng)是引起廣泛關(guān)注的研究課題。由于SnAgCu無鉛焊料中Sn的含量較高,焊接溫度也比較高,導(dǎo)致了焊點(diǎn)中Cu的溶解速度和界面金屬間化合物的生長速度遠(yuǎn)高于SnPb系焊料。相關(guān)研究表明,焊點(diǎn)與金屬接點(diǎn)間的金屬間化合物的形態(tài)和長大對焊點(diǎn)缺陷的萌生及發(fā)展、電子組裝件的可靠性等有十分重要的影響。
應(yīng)用范圍:
PCBA、PCB、FPC等。
測試步驟:
對樣品進(jìn)行切割、鑲嵌、研磨、拋光、微蝕后,表面鍍鉑金,按照標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)流程放入掃描電子顯微鏡樣品室中,對客戶要求的測試位置進(jìn)行放大觀察并測量。
參考標(biāo)準(zhǔn):
JYT 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
GB/T 16594-2008 微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
典型圖片: