光學(xué)顯微形貌觀察與測(cè)量
項(xiàng)目介紹
光學(xué)顯微鏡是利用凸透鏡的放大成像原理,將人眼不能分辨的微小物體放大到人眼能分辨的尺寸,其主要是增大近處微小物體對(duì)眼睛的張角(視角大的物體在視網(wǎng)膜上成像大)。普通光線的波長(zhǎng)為400~700nm,光學(xué)顯微鏡的最佳分辨率是0.2 um,人眼的分辨率是0.2 mm,所以顯微鏡的最高放大倍率通常為1000 X。一般的光學(xué)顯微鏡有多個(gè)可以替換的物鏡,這樣觀察者可以按需要更換放大倍數(shù)。因?yàn)椴捎每梢?jiàn)光作為光源,光學(xué)顯微鏡對(duì)于色彩的識(shí)別非常敏感和準(zhǔn)確,不僅能觀察樣品表層組織而且在表層以下的一定范圍內(nèi)的組織同樣也可被觀察到。
應(yīng)用領(lǐng)域:
光學(xué)顯微鏡操作方便、直觀、檢定效率高的特點(diǎn),適用于表面觀察與測(cè)量,不僅可以鑒別和分析各種金屬、合金、非金屬制品的表面缺陷及集成電路、印刷電路板、線材、纖維、表面噴涂等表面現(xiàn)象的檢查,還可以廣泛地應(yīng)用于電子、化工和儀器儀表行業(yè)觀察不透明的物質(zhì)和透明的物質(zhì)。
外觀檢查
目的
各業(yè)界對(duì)外觀等問(wèn)題越來(lái)越重視,對(duì)產(chǎn)品制造工藝要求越來(lái)越嚴(yán)格,產(chǎn)品外觀的評(píng)級(jí)很大程度上反應(yīng)了產(chǎn)品質(zhì)量。通過(guò)用光學(xué)放大輔助裝置檢查產(chǎn)品外形、裝配、表面是否有裂紋、孔洞以及焊接不良等缺陷,檢驗(yàn)生產(chǎn)線工藝、印刷線路板的質(zhì)量以及電路組件中出現(xiàn)的焊接缺陷等,有助于監(jiān)控制作工藝流程,及時(shí)對(duì)檢驗(yàn)的結(jié)果采取糾正措施,為生產(chǎn)過(guò)程的作業(yè)以及產(chǎn)品質(zhì)量保證提供指導(dǎo),保證產(chǎn)品符合在最終使用環(huán)境下的形狀、配合及功能要求。
應(yīng)用范圍:
根據(jù)因零件的使用特性,允收標(biāo)準(zhǔn)一般包括理想狀況、允收狀況、拒收狀況等三種狀況。主要應(yīng)用于工裝檢具、金屬件等的檢定,電子產(chǎn)品組裝、偏移、焊接異常檢驗(yàn),PCB/PCBA線路、防焊、孔、零件對(duì)準(zhǔn)度以及文字圖形缺陷檢驗(yàn)。
測(cè)試步驟:
確認(rèn)樣品類(lèi)型、確認(rèn)檢驗(yàn)規(guī)范、將樣品放在光學(xué)顯微鏡下觀察、記錄觀察現(xiàn)象、結(jié)果評(píng)定
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):
IPC-6012 剛性印制板的鑒定及性能規(guī)范
IPC-A-610 電子組件的可接受性
IPC-A-600 印制板的可接受性
典型圖片:
焊盤(pán)表面異物
孔環(huán)表面異物
尺寸測(cè)量
目的:
尺寸測(cè)量是衡量材料質(zhì)量的基礎(chǔ)手段,將測(cè)定的物理量與標(biāo)準(zhǔn)單位量進(jìn)行比較,檢查外形尺寸/內(nèi)部布線是否符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以及圖紙要求,尺寸異常的工件圖像可以存儲(chǔ),便于分析查找原因,有助于快速獲取實(shí)際尺寸、檢驗(yàn)產(chǎn)品質(zhì)量以及精確控制工藝流程。
應(yīng)用范圍:
相比于傳統(tǒng)的人工測(cè)量和機(jī)械測(cè)量方式而言,光學(xué)尺寸測(cè)量精度高(一般可到0.01mm)、速度快(100毫秒左右)、客觀、可靠、重復(fù)性高,非接觸無(wú)損傷,主要應(yīng)用于機(jī)械、工具原型、機(jī)器等中小型配件、模具等行業(yè)中、齒輪、凸輪、蝸桿等的測(cè)量。電子行業(yè)中電子元件、PCB/PCBA產(chǎn)品的內(nèi)、外尺寸(長(zhǎng)度、寬度、厚度、內(nèi)徑和外徑),孔距,高度和深度等孔內(nèi)外徑測(cè)量,連接器管腳間距,檢測(cè)共面度等。
測(cè)試步驟:
確認(rèn)樣品類(lèi)型確認(rèn)檢驗(yàn)規(guī)范確認(rèn)測(cè)試位置制作切片(如有必要將樣品放在光學(xué)顯微鏡下觀察拍照采集圖像尺寸測(cè)量結(jié)果輸出)
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):
IPC-6012 剛性印制板的鑒定及性能規(guī)范
IPC-A-610 電子組件的可接受性
IPC-A-600 印制板的可接受性
典型圖片:
線寬/線距測(cè)量
孔壁厚度測(cè)量