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有機(jī)異物分析
所屬分類(lèi)
成分分析
產(chǎn)品描述
有機(jī)異物分析是指針對(duì)產(chǎn)品表面的有機(jī)異物，根據(jù)異物的形態(tài)、檢測(cè)深度及檢測(cè)面積等差異而選用特定的儀器，對(duì)其有機(jī)成分進(jìn)行分析，判定其主成分，從而獲取異物信息的一種分析方法。有機(jī)異物在放大觀察下常常表現(xiàn)出較為透明且性軟等特點(diǎn)。目前有機(jī)異物的分析手段主要有以下幾種：
| 分析手段 | 典型應(yīng)用 | 分析特點(diǎn) | 參考標(biāo)準(zhǔn) |
|---|---|---|---|
| 紅外光譜FTIR | 有機(jī)物定性；有機(jī)污染物分析 | 能進(jìn)行微區(qū)分析，其顯微鏡測(cè)量孔徑可到8mm或更小，可方便地根據(jù)需要選擇樣品不同部分進(jìn)行分析 | GB/T 6040-2002 |
| 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜TOF-SIMS | 有機(jī)材料和無(wú)機(jī)材料的表面微量分析；表面離子成像；深度剖面分析 | 優(yōu)異的摻雜劑和雜質(zhì)檢測(cè)靈敏度，可以檢測(cè)到ppm或更低的濃度；深度剖析具有良好的檢測(cè)限制和深度辨析率；小面積分析 | ASTM E1078-2009 ASTM E1504-2011 ASTM E1829-2009 |
| 動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜D-SIMS | 產(chǎn)品表面微小的異物分析；氧化膜厚度分析；摻雜元素的含量測(cè)定 | 分析區(qū)域小，能分析≥10μm直徑的異物成分；分析深度淺，可測(cè)量≥1nm樣品；檢出限高，一般是ppm~ppb級(jí)別 | ASTM E1078-2009 ASTM E1504-2011 ASTM E1829-2009 |
案例分析
案件背景：
某客戶(hù)產(chǎn)品Switching power使用過(guò)程中發(fā)現(xiàn)接觸不良現(xiàn)象，放大觀察后發(fā)現(xiàn)其電源插孔內(nèi)部發(fā)現(xiàn)大量固體顆粒物，懷疑由其引起電源插孔接觸不良。
檢測(cè)手段：
FTIR分析
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 6040-2002 紅外光譜分析方法通則
分析方法簡(jiǎn)介：
1、通過(guò)顯微鏡放大觀察發(fā)現(xiàn)電源插孔內(nèi)部表面存在異常顆粒狀物質(zhì)，見(jiàn)下圖：
2、在顯微鏡通過(guò)特殊取樣工具取出電源插孔內(nèi)部表面異物，并使用FTIR對(duì)其成分進(jìn)行分析，判定其有機(jī)主成分：
3、對(duì)其紅外光譜進(jìn)行解析，根據(jù)其分子結(jié)構(gòu)特征，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)紅外圖譜可知，該物質(zhì)有機(jī)主成分為松香。
上一個(gè)
無(wú)機(jī)異物分析
下一個(gè)
差示掃描量熱分析(DSC分析)
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